哪些方面會使紅外一氧化碳分析儀受到干擾
更新日期：2022-05-25 瀏覽次數(shù)：1422
在鋼鐵、石油化工、化肥、機械等工業(yè)部門,紅外一氧化碳分析儀是生產(chǎn)流程控制的重要監(jiān)測手段。紅外一氧化碳分析儀的光學部分結構*，電路部分全部采用進口大規(guī)模集成電路。體積小，可靠性高，預熱時間短，可使用戶工作效率大大提高。 1、溫度變化的干擾：
檢測過程需要在恒定的溫度下進行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定，影響紅外輻射的強度，影響測量氣室連續(xù)流動的氣樣密度，還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài)，檢測器的輸出阻抗下降，導致儀器不能正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及超溫保護電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響，在夏季環(huán)境溫度較高時尤為明顯。在這種情況下，需改變環(huán)境溫度，設置空調(diào)是一種解決辦法。
2、光路不平衡干擾：
一臺紅外線氣體分析儀預熱后通入氮氣時，輸出很大，這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起，因此只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)選鈕使輸出達到小，再調(diào)整光路平衡選鈕使輸出Z小即可。然后同零點氣和量程氣，反復校準儀表零點和量程。
3、水分干擾：
零點氣中若有水分，紅外線氣體分析器標定后，會引起負誤差，在近紅外區(qū)域，水有連續(xù)的特征吸收波譜，若標定用的零點氣中含有水分時，將造成儀器的零位的負偏，標定后儀器示值必然比實際值偏低，從而起負誤差。
4、大氣壓力波動的干擾：
大氣壓力即使在同一個地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時，變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化，對氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣，會隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化，從而造成附加誤差。
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